Sick MultiV Kubisch Optischer Sensor, Hintergrundunterdrückung, Bereich 3 mm ? 50 mm, PNP Ausgang, A
von Sick
Herstellernummer: WTV4-3P3171

Sensor Art = Kubisch
Betriebsart = Hintergrundunterdrückung
Erfassungsbereich = 3 mm ? 50 mm
Ausgangstyp = PNP
Anschluss = M8-Steckverbinder mit Kabel
Gleichspannung max. = 30V
Anschlusstyp = 3-polig, Kabel 100 mm
Lichtquelle = Rotes Licht
IP Schutzart = IP66, IP67
Strom max. = 100 mA
Reaktionszeit = 0,0005 Sekunden
Gehäusematerial = Kunststoff
Erfüllte Normen = CE Certified, UL Certified

ÜbersichtAuf einen BlickBester Hintergrundunterdrückungssensor seiner Klasse Universeller Einsatz der PinPoint Technologie in allen Modellen BGS-Näherungssensor mit laserähnlichen Lichtfleck für präzise Erkennung Aufgaben Zuverlässige Einstellung über 5-Drehpotenziometer, Teach-In-Drucktaste, Teach-In über Kabel oder IO-Link Flexible Sensoreinstellungen, Überwachung, erweiterte Diagnose und Anzeige dank I/O-LinkIhr VorteilKostengünstige Integration durch optimale Maschinenintegration in Bereichen mit Begrenzter Platz Anwendungsflexibilität durch zuverlässige Erkennung von glänzendem oder strahlschwarzem Objekte Robustes Befestigungssystem mit M3-Gewindeeinsätzen reduziert die Wartung Kosten durch eine lange Lebensdauer Hohe Störfestigkeit gegen Umgebungslicht reduziert die Ausfallzeiten durch Fehlstellen Reisen Deutlich sichtbarer Lichtpunkt vereinfacht die Ausrichtung IO-Link ermöglicht einen einfachen Datenzugriff von der SPS aus Schnelle und einfache Konfiguration Schnelle und einfache Integration mit FunktionsblöckenDie photoelektrischen Sensoren der W4-3-Familie bieten erstklassige Leistung in einem Miniaturgehäuse. Mit den neuesten ASIC- und PinPoint-LED-Technologien bieten diese Sensoren eine zuverlässige Objekterkennung von transparenten und glänzenden Objekten wie Blasen, E-Karten und Aluminiumdosen. Optische Achsen auf der flachen Seite ermöglichen eine einfache, platzsparende Integration in Maschinenumgebungen - auch ohne Montagehalterungen.AnwendungenZuverlässige Erkennung von unregelmäßig geformten Leiterplatten Überprüfung der Lagerplatzbelegung Äquidistante Einspeisung von Produkten Papierreißüberwachung Anwesenheitsprüfung auf Papier Erkennung von Papierkanten Erkennung der Vorderkante und Anwesenheitsprüfung Bogens- und Stanzüberwachung Anwesenheit und Positionsüberwachung von Blechen Anwesenheits- und Zählprozess Kollisionsbewusstsein am Bearbeitungstisch Überwachung des Materialtransports Überstandsüberwachung auf dem Fachstapel Füllstandsüberwachung im Teilebunker Erkennung von Solarwafern in rauen Wafer-Produktionsumgebungen Erkennung von Solarwafern in rauen Zellproduktionsumgebungen Erkennung, Messung und Positionierung des Solarglas-Substrats Überstandsüberwachung von Solarglas-Substraten Referenzpositionierung Positionierung und Geschwindigkeitsmessung auf dem Shuttle Vollständige Überwachung des Laststatus mittels Photoelektrischer Näherungssensor, der direkt in das Lasthandlinggerät integriert ist